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首页 产品中心 热阻及老化寿命系列 LT-200A 单颗LED/LED模组加速老化与寿命测量系统
LT-200A 单颗LED/LED模组加速老化与寿命测量系统
多家检测实验室已使用老化寿命测试系统通过美国NVLAP关于LM-80的认可
典型应用场景
用于LED封装产品、LED模组、LED阵列的常规老化、加速老化、光通维持特性试验、颜色漂移试验、温度特性试验、寿命试验等,并具备LED寿命推算及预估功能。完全实时的在线光电色参数自动测试。
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主要特点
在线自动测试
多路独立的智能程控精密电源设计,完全的实时在线光电参数自动测试,使得原本漫长而繁复的LED产品老化、寿命试验和温度试验变得十分的简单与轻松。
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自动校正功能,精确可靠
系统具备自动校正功能,无需频繁人为校正,大大提高工作人员效率的同时,长期数据更为精确可靠。
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独有专利和技术成果
设备含有多项远方公司独有的专利技术。
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设计参考标准及文献
IESNA LM-80-2008 Measuring Lumen Maintenance of LED Light Sources ENERGY STAR Program Requirements Product Specification Eligibility Criteria IEC 62717 LED modules for general lighting Performance requirements IES TM-21-11 Projecting Long Term Lumen Maintenance of LED Light Sources GB/T 24824-2009 普通照明用LED模块测量方法 行业标准QB/T4057-2010普通照明用发光二极管性能要求 ASSIST参考文件和远方公司863研究成果、博士学位论文等。
主要技术指标
型  号LT-200A
工位数90工位(可根据订单调整)LED同时试验,效率高
试验箱工作室尺寸500W*500H*500D(mm)(或按要求定制)
可调温恒温试验箱温度控制范围(室温+20℃)~100℃(特殊定制可为-20℃~100℃)
温度波动度(空载)0.5°C
工作室温度均匀度(空载)2°C
升温速率优于2~3°C/min
制冷降温速率

优于0.7~1℃/mi

n(本条仅对于特殊定制的具备制冷功能的可调温恒温试验箱)

测温精度及分辨率多路温度采集系统,有效监视每一个老化LED的外壳温度
配备高精度、耐高温传感器,测温精度1℃,分辨率0.1℃
光度线性0.2%
光纤耐温-40°C — +150℃
光谱分析波长范围380nm — 1000nm
波长准确度0.3nm


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